Cerca de patents

Les cerques en les bases de dades de patents constitueixen una eina molt útil per als investigadors, en diversos sentits:

– D’una banda, proporciona informació molt valuosa, prèvia a l’inici d’una investigació, amb l’objectiu de conèixer l’estat de la tècnica, en l’àmbit del treball que es va a abordar. Permet evitar la inversió de gran esforç i diners per a dur a terme investigacions ja realitzades i fins i tot permet evitar el risc d’infringir patents prioritàries titularitat de tercers. Segons dades de 2001 de l’Oficina de Patents Europea, es perden prop de 20.000 milions de € a l’any, per intentar patentar resultats ja existents.

– En segon lloc, permeten avaluar la patentabilitat de les pròpies invencions, donant a conèixer el grau de compliment de la nostra invenció pel que fa a novetat i activitat inventiva, tots dos requisits imprescindibles perquè la invenció siga protegida mitjançant patent.

– Finalment, atorguen informació molt útil a l’hora de conèixer empreses interessades en l’àmbit d’aplicació de la invenció, així com el personal involucrat en investigacions relacionades amb la nostra invenció i els països en els quals s’està invertint en aquest àmbit.

Les principals bases de dades de patents d’accés gratuït són les següents:

OFICINA ESPANYOLA DE PATENTS I MARQUES: Recursos d’accés a altres bases de dades i estat d’expedients.

ESPACENET: Recurs més important en aquests moments per a fer cerques sobre patents. Es pot accedir a tot el document.

OMPI: Permet la cerca de les patents sol·licitades a nivell internacional.

USPTO: Oficina Americana de Patents i Marques. Es mostren les sol·licituds americanes.

WEB OF KNOWLEDGE: S’obtenen resums i cites de publicacions científiques. En el seu apartat Derwent Innovation Index, es troben resums de patents.

15 maig 2015